| Poprzednia rewizja po obu stronachPoprzednia wersja | |
| start [2026/09/10 20:51] – admin | start [2026/09/17 21:27] (aktualna) – zakończenie sesji admin |
|---|
| |
| [[start:MTM|MTM]] | [[start:MTM|MTM]] |
| ===== Rok I - Egzaminy ===== | |
| |
| ==== VLSI ==== | |
| |
| * <del>Termin I (ustny): 14 maja 2026, od 14:00, B1, p.210 (po 4 osoby na godzinę)</del> | |
| * <del>Termin II (ustny): 26 czerwca 2026, od 8:00, B1, p.210 (po 4 osoby na godzinę)</del> | |
| * Termin III (ustny): 11 września 2026, od 12:00, B1, p.210 (po 4 osoby na godzinę) | |
| |
| ==== Fizyka ==== | |
| |
| * <del>Termin 0: 19 Czerwca 2026, 11:30-13:00, paw. D10 sala A.</del> | |
| * <del>Termin I: 02 lipca 2026, 10:00-12:00, paw. D10 sala C.</del> | |
| * <del>Termin II: 07 lipca 2026, 9:00-11:00, paw. D10 sala D.</del> | |
| * <del>Termin III: 02 września 2026, 10:00-11:00, paw D7 sala 113.</del> | |
| |
| ==== Analiza 2 ==== | |
| |
| * <del>Termin 0: 19 czerwca 2026, 8:00-9:30, C7 sala 2.11.</del> | |
| * <del>Termin I: 29 czerwca 2026, 10:00-11:30, C7 sala 2.11.</del> | |
| * <del>Termin II: 06 lipca 2026, 10:00-11:30, C7 sala 2.11.</del> | |
| * <del>Termin III: 07 września 2026, 15:30-17:00, C7 sala 2.11.</del> | |
| |
| ===== Rok II - Egzaminy ===== | |
| |
| ==== Układy elektroniki Analogowej II ==== | |
| |
| * <del>Termin zerowy (pisemny): 7 maja 2026, 9.45-11.15, B1, sala 121</del> | |
| * <del>Termin I (ustny): 14 maja 2026, od 8:00, B1, p.210 (po 4 osoby na godzinę)</del> | |
| * <del>Termin II (ustny): 22 czerwca 2026, od 8:00, B1, p.210 (po 4 osoby na godzinę)</del> | |
| * Termin III (ustny): 11 września 2026, od 8:00, B1, p.210 (po 4 osoby na godzinę) | |
| |
| ==== Metrologia ==== | |
| |
| * <del> termin 0 - 29.05 - 11.30 - 13.00 - B1 121,</del> | |
| * <del>I Termin - 25.06 - godz. 8 - 9.30 - B1 121,</del> | |
| * <del>II Termin - 01.07 - godz. 8 - 9.30 - B1 121,</del> | |
| * <del>III termin - 04.09 - godz. 8 - 9.30.</del> | |
| |
| |
| |
| |
| TEST | TEST |
| [[https://wikielektron.pl/predy/test-predyspozycji-mikroelektronika.html|Odnośnik zewnętrzny]] | [[https://wikielektron.pl/predy/test-predyspozycji-mikroelektronika.html|Odnośnik zewnętrzny]] |
